产品分析请求系统

亚博体彩官网莱迪思半导体公司保持全球产品分析请求(PAR)系统,提供对集成电路,包装和运输材料和行政性质的任何客户的咨询作出迅速反应。该系统的重点是根本原因的标识,以及所需的纠正措施,以解决或消除的问题。永久的解决方案和完善的系统来防止复发。此外,该系统提供用于改进产品的设计,制造格子信息,服务等方面。我们的目标是提高我们的系统和服务,以防止未来的问题。

亚博体彩官网晶格半导体的产品分析系统(PAR)包括以下组件分析需求:

  • 电气故障-功能问题后发现回流。
  • 视觉/机械-回流前发现的问题(物理缺陷)。为了便于分析,你不能使用或安装这些明显损坏的部件。
  • 管理 - 问题发现在接收/来料检验(数量,标签,包装问题)。一些行政问题可能会转发给我们的客户服务部门。

软件、电路板和电缆问题不应提交给PAR系统。

亚博体彩官网莱迪思半导体为客户提供了元件故障分析服务,在适当情况下,帮助改善格的质量和可靠性,客户产品和制造工艺。

不按规格运行的设备,如电气和编程故障,可以返回进行故障验证和分析。

其他问题,如回流前看到的视觉或机械损坏,或在客户的收货或来料检验区域发现的管理问题,也将根据通过Lattice PAR系统提交的案例进行调查。请与您当地格子销售支持办公室联系以获取更多信息。亚搏国际网址

周转时间设定为满足客户的需求进行解析,并莱迪思的需要快速的信息来解决质量,可靠性或纠正问题。莱迪思的目标在电子工业协会规范EIA-671最初和最终响应的周期时间。

以下情况下,格点不能接受PAR分析请求:

  • 用于非生产释放的材料分析请求,包括工程样品(ES)设备。
  • 设备不通过莱迪思授权的渠道购买。
  • 受到电超应力(EOS)的设备-例如回流后的Vcc/Gnd短管或多个开/短管脚。
  • 具有严重或机械损伤的电气故障设备,妨碍完整的电气测试。
  • 物料由莱迪思设施PAR请求的日期交付了超过三(3)年之前。
  • 不包括由莱迪思半导体器件亚博体彩官网保证条款和条件

设备分析能力

格点总部的能力如下:

物理测量设备:卡钳,测量显微镜,封装键合测试,扫描电子显微镜(SEM),扫描声学显微镜(SAM)。

电测试和测量设备:高速自动测试设备(ATE),高速示波器,脉冲发生器,自定义交流负载板,时域反射(TDR),各种直流测量工具。

失效分析能力:光子发射显微镜(PEM),液晶分析和探针台,电测试设备,对横截面,平行研磨和背面抛光设备,湿式/干式化学蚀刻,高放大倍率的光学显微镜,扫描电子显微镜(SEM),能量色散X射线光谱法(EDS),扫描声学显微镜(SAM)。

合格的外部实验室的能力如下:

聚焦离子束(FIB),实时x射线照相(RTX),残余气体分析和泄漏测试,透射电子显微镜(TEM),俄歇电子能谱(AES)。

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